Fault tree analysis with fuzzy gates
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DOI：
10.1016/s0360-8352(97)00195-2
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发表时间：
1997-12
影响因子：
7.9
通讯作者：
HanSuk Pan;W. Yun
中科院分区：
文献类型：
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作者：
HanSuk Pan;W. Yun
