High-performance arduino-based interferometric quadrature phase-shift detection system with 1 nm resolution
High-performance arduino-based interferometric quadrature phase-shift detection system with 1 nm resolution
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基于 arduino 的高性能干涉正交相移检测系统，分辨率为 1 nm
DOI：
10.1063/5.0055484
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
1.6
通讯作者：
M. Fokine
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
K. Mühlberger;C. Harvey;M. Fokine
正交相移检测系统的干涉测量已被概念化和评估。主要部件，一个微控制器和两个光电探测器，使一个通用的低成本检测系统的位移测量或更一般的相变测量。该系统能够以5 kHz采样，空间分辨率为1 nm。
A quadrature phase-shift detection system for interferometry has been conceptualized and evaluated. The main components, a microcontroller and two photodetectors, make a versatile low-cost detection system for displacement measurements or more generally phase-change measurements. The system is capable of sampling at 5 kHz with a spatial resolution of 1 nm.
影响因子：
1.7
作者：
Ripandelli, G;Coppe, A M;Stirpe, M
通讯作者：
Stirpe, M