GaAsナノワイヤの結晶構造変化のその場X線回折測定
GaAsナノワイヤの結晶構造変化のその場X線回折測定
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原位 X 射线衍射测量 GaAs 纳米线晶体结构变化
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
高橋正光
中科院分区：
文献类型：
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作者：
神津美和;Hu Wen;高橋正光
