The structure of the Si(111)(√3 x √3)R30°-Sn surface determined using x-ray diffraction
The structure of the Si(111)(√3 x √3)R30°-Sn surface determined using x-ray diffraction
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使用 X 射线衍射测定 Si(111)(√3 x √3)R30°-Sn 表面的结构
DOI：
10.1016/0167-2584(89)90534-3
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发表时间：
1989
期刊：
影响因子：
1.9
通讯作者：
J. V. D. Veen
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. M. Conway;J. E. MacDonald;C. Norris;E. Vlieg;J. V. D. Veen
