Chirp-Kalibriernormale für Oberflächenmessgeräte (Chirp Calibration Standards for Surface Measuring Instruments)
Chirp-Kalibriernormale für Oberflächenmessgeräte (Chirp Calibration Standards for Surface Measuring Instruments)
复制标题
Chirp-Kalibriernormale für Oberflächenmessgeräte(表面测量仪器的 Chirp 校准标准)
DOI:
10.1524/teme.2007.74.11.572
复制
发表时间:
2007
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
H. Wilhelms
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
R. Krüger;Peter Bakucz;L. Jung;H. Wilhelms
In diesem Beitrag wird ein „Chirp”-Oberflächennormal vorgestellt. Es ist dafür vorgesehen, mit einer Serie von verschiedenen Ortsfrequenzen das Übertragungsverhalten von Oberflächenmessgeräten zu testen. Die Topografie des Normals enthält eine abgestufte Folge von Sinuswellen, deren Abstände, Steigungen und Krümmungen durch den Synthese- und Fertigungsprozess genau bekannt sind. Die Oberfläche des Normals wird durch einen Diamant-Drehprozess hergestellt. Bei der Erzeugung der NC-Steuerdaten wird mittels morphologischer Operationen der Einfluss der Werkzeuggeometrie berücksichtigt. Erste Ergebnisse von Messungen am Chirp-Normal mit Interferenzmikroskopen und Tastschnittgeräten werden gezeigt. In this article a chirp-calibration standard is presented. It is intended to test the function transfer of surface measuring instruments by a series of different space scaled frequencies. The standard contains a sequence of sinusoidal waves, the distance, slopes and curvatures of which are well known from the design and the manufacturing process. The surface of the specimen is manufactured by a single diamond turning process. The control data take into account the influence of the cutting tool by morphological operations. First results of measurements on the chirp standard by both a contact stylus instrument and an interference microscope are presented.