193 nm ArF Excimer Laser-Ablations System

193nm准分子激光消融-系统在2001年的Arbeitsgruppe Gruppe and Lagerstättenkunde(Uürzburg大学)in Dauerbetrieb befindlichen激光器，der MIT einem Quadrupol-Massenspecktroeter gekopelt，DAR。麻省理工学院Wechsel von教授Klemd von Würzburg nach Erlangen auf eine selbstständige Producessur für地球Chemie and Lagerstättenkunde(Seit 1.03.08)，Wurde das gesamte system beeit an die University beeität Erlangenübersiedelt。安方2008年的基础设施和激光设备制造的问题和纹身都不是很好。用193 nm激光系统测量了Kombiniert的光谱。MIT Gekoppeltem激光本质上是一种重要的石油物流和地球化学研究项目。Diese Gerätekombination soll or allem für eine or tsauflösende SPurenelement analytitik an einzelnen gesteinsbildenden and akzessorischen Mineralen Wie Z.B.Silikten，Oxiden and Sulfiden Sowie für die analyts von SPurenelementen in einzelnen Schmelzeinschlüssen in Einzelnen Schmelzeinschlüssen in Mineralen eingetzt WieZ.B.Silikten，Oxiden and Sulfiden Sowie für die analytvon von SPurenelementen in einzelnen Schmelzeinschlüssen in Mineralen eingetzden.

Das beantragte 193 nm Excimer Laser-Ablations-System stellt eine Ersatzbeschaffung zu dem seit 2001 in der Arbeitsgruppe Geochemie und Lagerstättenkunde (Universität Würzburg) im Dauerbetrieb befindlichen Laser, der mit einem Quadrupol-Massenspektrometer gekoppelt ist, dar. Mit dem Wechsel von Prof. Klemd von Würzburg nach Erlangen auf eine selbstständige Professur für Geochemie und Lagerstättenkunde (seit 1.03.08), wurde das gesamte System bereits an die Universität Erlangen übersiedelt. Die Ersatzbeschaffung ist notwendig durch zunehmend auftretende elektronische und quellenbedingte Probleme und die Tatsache, dass die Firma seit Anfang 2008 keine Ersatzteile mehr für den Laser vertreibt. Das beantragte 193 nm Lasersystem soll mit dem vorhandenen Quadrupol-Massenspektrometer kombiniert werden. Die Funktionalität dieses Massenspektrometers mit gekoppeltem Laser ist essentiell für viele petrologisch-geochemische Projekte der Fachgruppe Krustendynamik im GeoZentrum Nordbayern. Diese Gerätekombination soll vor allem für eine ortsauflösende Spurenelementanalytik an einzelnen gesteinsbildenden und akzessorischen Mineralen wie z.B. Silikaten, Oxiden und Sulfiden sowie für die Analyse von Spurenelementen in einzelnen Schmelzeinschlüssen in Mineralen eingesetzt werden.