Cs-korrigiertes Hochauflösungs-Transmissionselektronenmikroskop

模具材料学与材料学与材料学与材料学。Mit dem beantragten aberrents -korrigierten Hochauflösungs-Transmissionselektronenmikroskop wrden die bebeitgruppen物理学，化学和地质科学，welche einen groen anil der Arbeiten en Schwerpunkten schenen听，in die Lage versetzt， analysche and abbildende transmissionselektronenmikskopie aufdem heutigen Stand der Technik和zugehen， um grundlegende Fragen der materialwissenschaftlichen Forschung和zugehen。第1课：管理标准管理系统<e:1>管理系统管理系统Geräten night möglich。Insbesondere w<s:1> rde die beantragte Konfiguration erlauen, ber die heute in m nster verf<s:1> garen Möglichkeiten hinaus auth原子结构与内部结构Grenzflächen， Verzerrungsfelder与Grenzflächen mit atomarer Auflösung， Grenzflächensegregationen und Interdiffusionsprofile and struckturanalyse mittelels Feinbereichs- und Nanostrahlbeugung定量和hinsichtlich eiger Fragestellungen auch原位温度注入下的热力学机制Spannung zu分析。dartersuchung von kohlensten - nanostrukturen（中国）eröffnet die schnelle Erfassung characterteristischer Röntgenstrahlung mit hoher Effizienz die Analyse von elementverilungen and Grenzflächen bei minimaler对Proben durch den Elektronenstrahl and die的改进Möglichkeit des Arbeitens bei beschleunungsspannungen under 80 Kiloelektronenvolt erlaubt die schädigungsfreie Untersuchung von kohlenstom - nanostrukturen。

Die Materialwissenschaften sowie die Nanoanalytik stellen Schwerpunkte der Forschung an der Universität Münster dar. Mit dem beantragten aberrations-korrigierten Hochauflösungs-Transmissionselektronenmikroskop würden die beteiligten Arbeitsgruppen aus Physik, Chemie und den Geowissenschaften, welche einen großen Anteil der Arbeiten in den beiden Schwerpunkten leisten, in die Lage versetzt, analytische und abbildende Transmissionselektronenmikroskopie auf dem heutigen Stand der Technik anzuwenden, um grundlegende Fragen in der materialwissenschaftlichen Forschung anzugehen. Dies ist mit bislang am Standort Münster vorhandenen Geräten nicht möglich. Insbesondere würde die beantragte Konfiguration es erlauben, über die heute in Münster verfügbaren Möglichkeiten hinaus auch atomare Strukturen an und von inneren Grenzflächen, Verzerrungsfelder an Grenzflächen mit atomarer Auflösung, Grenzflächensegregationen und Interdiffusionsprofile und Strukturanalyse mittels Feinbereichs- und Nanostrahlbeugung quantitativ und hinsichtlich einiger Fragestellungen auch in-situ unter dem Einfluss von Temperatur oder mechanischer Spannung zu analysieren. Darüber hinaus eröffnet die schnelle Erfassung charakteristischer Röntgenstrahlung mit hoher Effizienz die Analyse von Elementverteilungen an Grenzflächen bei minimaler Modifikation der Proben durch den Elektronenstrahl und die Möglichkeit des Arbeitens bei Beschleunigungsspannungen unter 80 Kiloelektronenvolt erlaubt die schädigungsfreie Untersuchung von Kohlenstoff-Nanostrukturen.