Aperturloses Infrarot-optisches Rasternahfeldmikroskop (SNOM)

Die relativ neue sSNOM-Technik erlaubt es，auf völlig zerstörungsfreie Weise mikroskopische Aufnahmen mit lateraler Auflösung bis herunter zu ca. 20 nm（努尔bedingt den Radius der verwendeten AFM/STM-Spitze）zu erhalten und，bei Verwendung durchstimmbarer Lichtquellen，mit dieser Auflösung spektroskopische Information bzw.化学对比。这种方法是最有效的。100 nm Tiefe und kann somit über vergrabene Grenzflächen informieren. Organische Halbleitermoleküle haben ein reichhaltiges IR-Spektrum，welches extreme von der molekularen Geometrie，der Ladung und irer Verteilung und der Molekülorientierung zum elektrischen费尔德abhängt.一般偏振敏感的IR-传感器可以检测到红外线。Mittels IR sSNOM können unter Verwendung von Quanten-Kaskaden-Lasern（QCL）solche Informationen mit der o.g.侧边的空气流动韦尔登。Damit sind z.B. die Gleichförmigkeit der molekularen Orientierung in einer organischen Halbleiterschicht，die Verteilung des Ladungtranssfers in einer strukturierten Probe or die Segregation und die Grenzflächenspezies von Mischschichten nachweisbar.该红外光谱仪是一种新型的红外光谱分析方法，采用纳米结构的相位分离技术，通过韦尔登对红外光谱仪进行分析。在SFB 1249的背景下，它是一个很好的装置，它与SFB中的高性能光学扬声器配合使用，而不是与线性光学技术相结合。

Die relativ neue sSNOM-Technik erlaubt es, auf völlig zerstörungsfreie Weise mikroskopische Aufnahmen mit lateraler Auflösung bis herunter zu ca. 20 nm (nur bedingt durch den Radius der verwendeten AFM/STM-Spitze) zu erhalten und, bei Verwendung durchstimmbarer Lichtquellen, mit dieser Auflösung spektroskopische Information bzw. chemischen Kontrast zu erreichen. Die Methode ist empfindlich bis zu ca. 100 nm Tiefe und kann somit über vergrabene Grenzflächen informieren. Organische Halbleitermoleküle haben ein reichhaltiges IR-Spektrum, welches extrem von der molekularen Geometrie, der Ladung und ihrer Verteilung und der Molekülorientierung zum elektrischen Feld abhängt. Genaue polarisationssensitive IR-Messungen können Veränderungen dieser Größen feststellen. Mittels IR sSNOM können unter Verwendung von Quanten-Kaskaden-Lasern (QCL) solche Informationen mit der o.g. lateralen Auflösung erhalten werden. Damit sind z.B. die Gleichförmigkeit der molekularen Orientierung in einer organischen Halbleiterschicht, die Verteilung des Ladungstransfers in einer strukturierten Probe oder die Segregation und die Grenzflächenspezies von Mischschichten nachweisbar. Die Fernfeld-IR-Spektroskopie, die über μm bis mm große Bereiche mittelt, soll durch eine moderne IR-optische Nahfeld-Methode ergänzt werden, um auf der Nanometerskale Phasengrenzen von strukturellen Domänen und Segregation zu analysieren. Im Rahmen des SFB 1249 ist außerdem geplant, das Gerät mit zeitaufgelöster optischer Spektroskopie mittels der im SFB entwickelten nicht-linear optischen Techniken zu kombinieren.