Punktdefektanalyse undotierter, bor- und sauerstoffarmer GaAs-Czochralski-Kristalle mit verschiedener, aber definierter Stöchiometrieabweichung und Kohlenstoffkonzentration
Punktdefektanalyse undotierter, bor- und sauerstoffarmer GaAs-Czochralski-Kristalle mit verschiedener, aber definierter Stöchiometrieabweichung und Kohlenstoffkonzentration
批准号:
5308744
负责人:
Professor Dr. Peter Rudolph
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
2001
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
2000-12-31 至 2006-12-31
中文摘要
在此基础上,研究人员提出了一种新的研究方法,即:在GaAs中,研究人员提出了一种新的研究方法,即:在GaAs中,研究人员提出了一种新的方法。他是肯尼迪主义者,他是美国人,他是美国人。beingt durch die bliche Verwendung von B2O3-Abdeckschmelzen bei der zchtung wird der Einbau von borin den Kristall force,是die Effizienz der mitteles ionen着床hergestellten Bauelemente (FET's)的影响ß。(1)德国汽车工业协会(HBT)在德国汽车工业协会(Waferoberflächenqualität beeinträchtigenden Arsenpräzipitate)的工作中发挥了重要作用。在德国,在德国,在德国,在德国,在德国,在德国,在德国,在德国,在德国,在德国,在德国,在德国,在德国,在德国。Letzteres bietet die Möglichkeit, die Stöchiometrie oder eine -abweichung im kristell gezielt einzustellen and fr eine Verringerung der Arsenausscheidungen zu nutzen。Hiermit sind auch r<s:1> ckschl<e:1> sse auf den noch night geklärten Solidusverlauf des gaas - phasendiagmes sowie den - haushalt an eigenpunktdefkten möglich。weiterin interessieren der stöchiometrierelevante Einbau von Fremdverunreinigungen, vornehmlich leichter element, C, B, O, N, H, sowie deren wehselwirkung dem stallgitter and den eigenpunktdefkten。德国弗莱贝格复合材料有限公司,德国弗莱贝格复合材料有限公司,德国弗莱贝格复合材料有限公司,德国弗莱贝格复合材料有限公司,德国弗莱贝格复合材料有限公司,德国弗莱贝格复合材料有限公司。
英文摘要
Wie bei Silicium bereits seit Jahren bekannt, gewinnt die Beherrschung der Punktdefekte auch in GaAs mit stetig verbesserter Materialqualität zunehmend an Bedeutung. Der heutige Kenntnisstand ist, verglichen mit Silicium, jedoch noch geringer. Bedingt durch die übliche Verwendung von B2O3-Abdeckschmelzen bei der Züchtung wird der Einbau von Bor in den Kristall forciert, was die Effizienz der mittels Ionenimplantation hergestellten Bauelemente (FET's) beeinflußt. Die zunehmende Wichtigkeit epitaktischer Bauelemente (HBT's) erfordert zudem eine deutliche Verringerung der die Waferoberflächenqualität beeinträchtigenden Arsenpräzipitate. Die Antragsteller beherrschen ein modifiziertes Czochralski-Verfahren, mit dem es möglich ist, sowohl mit als auch ohne B2O3-Deckschicht unter einem bestimmten Arsendampfdruck zu züchten. Letzteres bietet die Möglichkeit, die Stöchiometrie oder eine -abweichung im Kristall gezielt einzustellen und für eine Verringerung der Arsenausscheidungen zu nutzen. Hiermit sind auch Rückschlüsse auf den noch nicht geklärten Solidusverlauf des GaAs-Phasendiagrammes sowie den as-grown-Haushalt an Eigenpunktdefekten möglich. Weiterhin interessieren der stöchiometrierelevante Einbau von Fremdverunreinigungen, vornehmlich leichter Elemente wie C, B, O, N, H sowie deren Wechselwirkung mit dem Kristallgitter und den Eigenpunktdefekten. Diese Untersuchungen besitzen neben ihrem grundlegenden Charakter sehr wichtige Anwendungsaspekte und werden deshalb vom Industriepartner des Projektes, Freiberger Compound Materials GmbH, inhaltlich und mit Geldwertesachleistungen unterstützt.
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