Die Oberflächengröße eisenreicher Sekundärmineralüberzüge auf Schwarzpeliten und ihr potentieller Einfluß auf den Spurenelement-Rückhalt

氧化铈在氧化合成和在Böden中是最好的，并且是一种高地球化学反应性的。Ihre often vergleichsweise großen spezifischen Oberflächen sind die Ursache für ihre Bedeutung als Adsorbent.在该geplanten项目soll geklärt韦尔登，ober der Gehalt an Spurenelementen in Eisenoxiden aus rezenten and fossilen Verwitterungsbildungen durch den Betrag irrer specifischen und fluidzugänglichen Oberfläche gesteuert wurde.这些材料是西卢里希-德文斯切允许的黑云母。这些都是相对于纯净元素而言的。Bei oxischer Verwitterung韦尔登在（硫酸盐）氧化物中的氧化物，有机物材料氧化和纯元素移动。Die Sekundärmineral-Überzüge auf Schwarzpelitoberflächen sollen dünnschliffpetrographisch und mikrosondenanalytisch charakterisiert韦尔登。Mit Laserablation-ICP-MS可用于检测亲白垩剂/亲有机剂流动剂和固定剂的浓度。Schwerpunkt der Untersuchungen liegt auf der Oberflächenquantitizierung sekundär gebildet Mineralaggregate，insbesondere mit Hilfe konfokaler Laser-Scanning-Mikroskopie und Interferometrie-Mikroskopie（Weißlichtinterferometrie）. Damit wird die für Fluide leichtzugängliche Gesteinsoberfläche quantifiziert. Diese Oberflächendaten sollen als Randbedingung für eine Bilanzierung der Verlagerung von Spurenelementen verwendet韦尔登。

Eisenoxide sind wichtige Bestandteile in oxidativ verwitterten Gesteinen und in Böden und besitzen eine hohe geochemische Reaktivität. Ihre oft vergleichsweise großen spezifischen Oberflächen sind die Ursache für ihre Bedeutung als Adsorbent. In dem geplanten Projekt soll geklärt werden, ob der Gehalt an Spurenelementen in Eisenoxiden aus rezenten und fossilen Verwitterungsbildungen durch den Betrag ihrer spezifischen und fluidzugänglichen Oberfläche gesteuert wurde. Untersuchungsmaterial sind silurisch-devonische sowie permische Schwarzpelite. Diese besitzen im unverwitterten Zustand relativ hohe Spurenelementgehalte. Bei oxischer Verwitterung werden Eisensulfide in (teilweise sulfatführende) Eisenoxide umgewandelt, organisches Material oxidiert und Spurenelemente mobilisiert. Die Sekundärmineral-Überzüge auf Schwarzpelitoberflächen sollen dünnschliffpetrographisch und mikrosondenanalytisch charakterisiert werden. Mit Laserablation-ICP-MS wird die Konzentration chalkophiler/organophiler mobiler und immobiler Spurenelemente detektiert. Schwerpunkt der Untersuchungen liegt auf der Oberflächenquantifizierung sekundär gebildeter Mineralaggregate, insbesondere mit Hilfe konfokaler Laser-Scanning-Mikroskopie und Interferometrie-Mikroskopie (Weißlichtinterferometrie). Damit wird die für Fluide leichtzugängliche Gesteinsoberfläche quantifiziert. Diese Oberflächendaten sollen als Randbedingung für eine Bilanzierung der Verlagerung von Spurenelementen verwendet werden.