Mössbauerspektroskopie an ionenimplantierten magnetischen Halbleitern

离子注入是一种在磁场中合成新磁性材料的方法。Dieses Verfahren soll angewandt韦尔登，um verdünte magnetische Halbleiterschichten（DMS）（z.B. GaN：Fe、SiC：Fe、SiO_2-FeSi_2：Mn）的介电常数。Derartige Systeme besitzen ein hohes Potential für neuartige elektronische Bauelemente/Sensoren.本文介绍了一种利用原子信息对57 Fe穆斯堡尔谱（CEMS）进行快速分析的方法。铁原子的相、磁有序性和化学稳定性都可以得到保证。在铁磁性中，铁离子的存在是一个韦尔登，这与理论是一致的。一个最重要的方面是CEMS-Nachweis möglicher Sekundärphasen（磁簇）als Folge der Ionenimplantation bzw。Wärmebehandlung and deren Einfluss auf die magnetischen Eigenschaften. Fe-Si_2：Mn合金是最好的合金材料。在这里，CEMS可以被韦尔登所资助，在硅基材料中的锰也可以被使用。

Die Ionenimplantation ist eine einzigartige Methode für die Synthese neuer magnetischer Materialien in oberflächennahen Bereichen. Dieses Verfahren soll angewandt werden, um verdünnte magnetische Halbleiterschichten (DMS) (z.B. GaN:Fe, SiC:Fe, ß-FeSi2:Mn) herzustellen. Derartige Systeme besitzen ein hohes Potential für neuartige elektronische Bauelemente/Sensoren. Neben konventionellen Messverfahren soll als wichtigste Analysenmethode die 57 Fe-Mössbauerspektroskopie (CEMS) zum Einsatz kommen, mit der man atomistische Informationen, z.B. über Phasenzusammensetzung, magnetische Ordnung und chemischen Valenzzustand der Fe-Atome, gewinnen kann. Insbesondere soll geklärt werden, ob interstitiell gelöste Fe-Ionen zum Ferromagnetismus beitragen, wie es die Theorie beschreibt. Ein wichtiger Aspekt ist der CEMS-Nachweis möglicher Sekundärphasen (magnetische Cluster) als Folge der Ionenimplantation bzw. Wärmebehandlung und deren Einfluss auf die magnetischen Eigenschaften. Im Fall von ß-FeSi2:Mn ist das SondenatoM 57Fe Bestandteil des Ausgangsmaterials. Hier kann mittels CEMS herausgefunden werden, auf welchem Platz das Mn im Silizidgitter eingebaut wird.