基于非接触激光测振的压接型IGBT劣化机理分析与状态检测方法研究
批准号：
52577010
项目类别：
面上项目
资助金额：
52.00 万元
负责人：
何洪英
依托单位：
学科分类：
工程与材料科学部
结题年份：
--
批准年份：
2025
项目状态：
未结题
项目参与者：
何洪英
关键词：
--
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项目类别：省市级项目
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资助金额：0.0万元
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批准年份：2019
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负责人：何洪英
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依托单位：
国内基金
海外基金