Contact mode scanning Hall probe microscopy
Contact mode scanning Hall probe microscopy
复制标题
接触式扫描霍尔探针显微镜
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A. Sandhu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Ohashi;H. Osawa;A. Sandhu
具有剪切力距离控制的扫描霍尔探针显微镜
影响因子：
3.2
作者：
T. Schweinböck;D. Weiss;M. Lipinski;K. Eberl
通讯作者：
K. Eberl
使用亚微米 GaAs SHPM 在存在外部磁场的情况下对磁存储介质和石榴石外延层进行室温磁成像
影响因子：
1.8
作者：
A. Sandhu;H. Masuda;A. Oral;S. Bending
通讯作者：
S. Bending