Angle-resolved STEM using an iris aperture: Scattering contributions and sources of error for the quantitative analysis in Si.
Angle-resolved STEM using an iris aperture: Scattering contributions and sources of error for the quantitative analysis in Si.
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使用虹膜孔径的角度分辨 STEM：Si 定量分析的散射贡献和误差源
DOI：
10.1016/j.ultramic.2020.113175
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
2.2
通讯作者：
Andreas Rosenauer
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Tim Grieb;Florian F. Krause;Knut Müller-Caspary;Saleh Firoozabadi;Christoph MahrMarco Schowalter;Andreas Beyer;Oliver Oppermann;Kerstin Volz;Andreas Rosenauer
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