Attenuation bias when measuring inventive performance
Attenuation bias when measuring inventive performance
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测量发明性能时的衰减偏差
DOI：
10.1080/10438599.2016.1155270
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发表时间：
2017
影响因子：
3.3
通讯作者：
Frosch
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Frosch
大多数以前的结果的决定因素的创造性的表现是有偏见的，因为创造性的表现是衡量与错误。这种测量误差导致衰减偏差。更具体地说，例如，年龄和教育作为专利成功的驱动因素，当在短时间内衡量发明性能时，具有偏置系数和过高的标准误差。发明性能测量误差的原因是专利申请通常是波浪式的。
Most previous results on determinants of inventive performance are biased because inventive performance is measured with error. This measurement error causes attenuation bias. More specifically, for example age and education as drivers of patenting success have biased coefficients and too high standard errors when inventive performance is measured in short observation periods. The reason for measurement errors in inventive performance is that patents are typically applied for in waves.
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