Construction of Measurement System for Superconducting Characteristics on Thin-film Samples at KEK

Construction of Measurement System for Superconducting Characteristics on Thin-film Samples at KEK
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KEK 薄膜样品超导特性测量系统的构建

DOI：
10.18429/jacow-ipac2016-wepmb021
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发表时间：
2016
期刊：
Proceedings of IPAC2016
影响因子：
--
通讯作者：
T. Saeki,　H. Hayano,　T. Kubo,　Y. Iwashita,　H. Oikawa
T. Saeki,　H. Hayano,　T. Kubo,　Y. Iwashita,　H. Oikawa
中科院分区：
--
文献类型：
--
作者：
Y. Iwashita;Y. Fuwa;M. Hino;T. Kubo;T. Saeki;岩下 芳久，頓宮 拓，不破 康裕，早野仁司， 佐伯 学行，久保 毅幸;及川 大基，東口 武史，岩下 芳久，日野 正裕，久保 毅幸，加藤 茂樹，佐伯 学行，早野 仁司;T. Saeki,　H. Hayano,　T. Kubo,　Y. Iwashita,　H. Oikawa

文献摘要

参考文献

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作者：
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通讯作者： J. Villégier
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