Parameter-free determination of the exchange constant in thin films using magnonic patterning
Parameter-free determination of the exchange constant in thin films using magnonic patterning
复制标题
使用磁性图案无参数测定薄膜中的交换常数
DOI：
10.1063/1.4943228
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发表时间：
2016
影响因子：
4
通讯作者：
J. Fassbender
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
M. Langer;K. Wagner;T. Sebastian;R. Hübner;J. Grenzer;Y. Wang;T. Kubota;T. Schneider;S. Stienen;J. Linder;K. Lenz;J. Linder;K. Takanashi;R. Arias;J. Fassbender
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