A Dispersive Inelastic X-ray Scattering Spectrometer for Use at X-ray Free Electron Lasers
A Dispersive Inelastic X-ray Scattering Spectrometer for Use at X-ray Free Electron Lasers
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用于 X 射线自由电子激光器的色散非弹性 X 射线散射光谱仪
DOI：
10.3390/app7090899
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
C. Milne
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
J. Szlachetko;M. Nachtegaal;D. Grolimund;G. Knopp;Sergey Peredkov;J. C. –. Masztafiak;C. Milne
本文报道了短工作距离冯·哈莫斯几何光谱仪在固体和液体非弹性x射线散射（IXS）信号测量中的应用。与典型的IXS仪器相比，光谱仪的几何结构是固定的，入射光束的能量被扫描，冯·哈莫斯几何结构允许使用固定的光学装置进行测量，没有移动部件。由于该光谱仪装置具有射对射的能力，我们预计它将应用于x射线自由电子激光器（XFELs）的IXS技术。我们从效率和给定信噪比所需的总入射光子通量方面讨论了IXS研究的光谱仪设置的能力。由于在x射线衍射中应用了分段晶体，该光谱仪的最终能量分辨率在短晶体半径下达到了150 meV的水平，这是IXS研究的关键参数。短工作距离是测量微弱IXS信号所必需的光谱仪效率的关键参数。
We report on the application of a short working distance von Hamos geometry spectrometer to measure the inelastic X-ray scattering (IXS) signals from solids and liquids. In contrast to typical IXS instruments where the spectrometer geometry is fixed and the incoming beam energy is scanned, the von Hamos geometry allows measurements to be made using a fixed optical arrangement with no moving parts. Thanks to the shot-to-shot capability of the spectrometer setup, we anticipate its application for the IXS technique at X-ray free electron lasers (XFELs). We discuss the capability of the spectrometer setup for IXS studies in terms of efficiency and required total incident photon flux for a given signal-to-noise ratio. The ultimate energy resolution of the spectrometer, which is a key parameter for IXS studies, was measured to the level of 150 meV at short crystal radius thanks to the application of segmented crystals for X-ray diffraction. The short working distance is a key parameter for spectrometer efficiency that is necessary to measure weak IXS signals.
影响因子：
1.6
作者：
Alonso-Mori, Roberto;Kern, Jan;Bergmann, Uwe
通讯作者：
Bergmann, Uwe
影响因子：
4.4
作者：
Bergmann, Uwe;Di Cicco, Andrea;Nilsson, Anders
通讯作者：
Nilsson, Anders
影响因子：
1.6
作者：
Sokaras, D.;Nordlund, D.;Bergmann, U.
通讯作者：
Bergmann, U.