Room- temperature single-electron transfer and detection with silicon nanodevices
Room- temperature single-electron transfer and detection with silicon nanodevices
复制标题
硅纳米器件的室温单电子转移和检测
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Nishiguchi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Ohashi;T. Yammouch;M. Kimura;H. Ito;K. Okada;K. Ishida;K. Itoi;M. Sato;T. Ito;and K. Masu;Yuji MURAKAMI;K.Nishiguchi
影响因子：
3.2
作者：
P. Tougaw;C. Lent;W. Porod
通讯作者：
P. Tougaw;C. Lent;W. Porod
影响因子：
3.2
作者：
N. Zimmerman;E. Hourdakis;Y. Ono;A. Fujiwara;Yasuo Takahashi
通讯作者：
N. Zimmerman;E. Hourdakis;Y. Ono;A. Fujiwara;Yasuo Takahashi