RTS in submicron MOSFETs and quantum dots

RTS in submicron MOSFETs and quantum dots
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亚微米 MOSFET 和量子点中的 RTS

DOI:
--
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发表时间:
2004
期刊:
Proc.of 2nd SPIE Symposium Fluctuation and Noise
影响因子:
--
通讯作者:
M.Toita
M.Toita
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
J.Sikula;J.Pavelka;V.Sedlakova;M.Tacano;S.Hashiguchi;M.Toita

文献摘要

参考文献

被引文献

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