Development of a novel straining holder for transmission electron microscopy compatible with single tilt-axis electron tomography.
Development of a novel straining holder for transmission electron microscopy compatible with single tilt-axis electron tomography.
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开发一种与单倾斜轴电子断层扫描兼容的新型透射电子显微镜应变支架。
DOI：
10.1093/jmicro/dfv021
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
1.8
通讯作者：
S. Hata
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
K. Sato;H. Miyazaki;T. Gondo;S. Miyazaki;M. Murayama;S. Hata
我们开发了一种新设计的应变样品支架，用于与高角度单倾斜轴电子断层扫描兼容的原位透射电子显微镜 (TEM)。支架可以在拉伸应力作用下使 TEM 样品变形，应变速率在 1.5 × 10(-6) 和 5.2 × 10(-3) s(-1) 之间。我们还证实，对于矩形铝制样品，样品架的最大倾斜角度达到±60°。这种新的样品支架被称为“应变和断层扫描支架”，将在材料科学领域具有广泛的潜在应用。
We have developed a newly designed straining specimen holder for in situ transmission electron microscopy (TEM) compatible with high-angle single tilt-axis electron tomography. The holder can deform a TEM specimen under tensile stress with the strain rate between 1.5 × 10(-6) and 5.2 × 10(-3) s(-1). We have also confirmed that the maximum tilt angle of the specimen holder reaches ±60° with a rectangular shape aluminum specimen. The new specimen holder, termed as 'straining and tomography holder', will have wide range potential applications in materials science.
专为断层衍射对比成像而设计的高角度三轴样品架
DOI：
--
发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
--
作者：
本田雅幹;田中將己;光原昌寿;波多聰;金子賢治;東田賢二;S. Hata 他6名
通讯作者：
S. Hata 他6名