High-angle triple-axis specimen holder designed for tomographic diffraction contrast imaging
High-angle triple-axis specimen holder designed for tomographic diffraction contrast imaging
复制标题
专为断层衍射对比成像而设计的高角度三轴样品架
DOI：
--
复制
发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
S. Hata 他6名
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
本田雅幹;田中將己;光原昌寿;波多聰;金子賢治;東田賢二;S. Hata 他6名
登录
查看更多内容
影响因子：
2.8
作者：
J. Lamontagne;T. Blay;I. Roure
通讯作者：
I. Roure
位错断层扫描变得简单：使用自动图像偏移校正获得的 ADF STEM 图像进行重建
DOI：
10.1088/1742-6596/126/1/012013
发表时间：
2008
期刊：
Physica Status Solidi (a)
影响因子：
--
作者：
J. Sharp;J. Barnard;K. Kaneko;K. Higashida;P. Midgley
通讯作者：
P. Midgley
影响因子：
3
作者：
Mastronarde, DN
通讯作者：
Mastronarde, DN
影响因子：
1.6
作者：
Yamasaki, J;Tanaka, N;Terasaki, O
通讯作者：
Terasaki, O
用于观察纳米结构的三维 STEM。
DOI：
10.1093/jmicro/50.3.235
发表时间：
2001
期刊：
Journal of electron microscopy
影响因子：
--
作者：
M. Koguchi;H. Kakibayashi;R. Tsuneta;M. Yamaoka;T. Niino;N. Tanaka;K. Kase;M. Iwaki
通讯作者：
M. Iwaki