Submicrometer infrared surface imaging using a scanning-probe microscope and an optical parametric oscillator laser.
Submicrometer infrared surface imaging using a scanning-probe microscope and an optical parametric oscillator laser.
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使用扫描探针显微镜和光学参量振荡器激光器进行亚微米红外表面成像。
DOI：
10.1364/ol.34.000431
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
3.6
通讯作者：
Hill GA
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Hill GA
影响因子：
3.5
作者：
Hammiche, A;Pollock, HM;Jewkes, K
通讯作者：
Jewkes, K