Neutron Induced Displacement Damage in Commercial Power Management Integrated Circuits
Neutron Induced Displacement Damage in Commercial Power Management Integrated Circuits
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商用电源管理集成电路中的中子引起的位移损坏
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Quinn, Heather
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Koli, Gauri;Auden, Elizabeth;Quinn, Heather
洛斯阿拉莫斯高能中子测试手册
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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作者：
S. Wender;L. Dominik
通讯作者：
L. Dominik
洛斯阿拉莫斯中子科学中心
DOI：
10.2172/1331300
发表时间：
2016
期刊：
Springer Proceedings in Physics
影响因子：
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作者：
K. Kippen
通讯作者：
K. Kippen