Validating S‐parameter measurements of RF integrated circuits at milli‐Kelvin temperatures
Validating S‐parameter measurements of RF integrated circuits at milli‐Kelvin temperatures
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在毫开尔文温度下验证射频集成电路的 S 参数测量
作者：
M. Stanley;R. Parker;S. D. de Graaf;T. Lindström;J. Cunningham;N. Ridler
影响因子：
--
作者：
Bardin JC;Slichter DH;Reilly DJ
通讯作者：
Reilly DJ