Potential mapping using non-contact atomic force microscopy
Potential mapping using non-contact atomic force microscopy
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使用非接触式原子力显微镜进行电势测绘
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Takashi Namikawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yonezawa Go;Shibayama Mamoru;Truong Xuan Luan;Shi et al.;Takashi Namikawa
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