Imaging of large-scale integrated circuits using laser-terahertz emission microscopy
Imaging of large-scale integrated circuits using laser-terahertz emission microscopy
复制标题
使用激光太赫兹发射显微镜对大规模集成电路进行成像
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Tonouchi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M.Yamashita;K.Kawase;C.Otani;T.Kiwa;M.Tonouchi
使用聚焦激光束加热进行 LSI 故障分析
影响因子：
1.6
作者：
K. Nikawa;S. Inoue
通讯作者：
S. Inoue
硅器件芯片失效分析（LSI失效分析特刊）
DOI：
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发表时间：
1994
期刊：
影响因子：
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作者：
K. Nikawa
通讯作者：
K. Nikawa
利用 CAD 联动电子束测试系统进行 LSI 失效分析及其成本评估（LSI 失效分析特刊）
影响因子：
0.5
作者：
H. Fujioka;K. Nakamae
通讯作者：
K. Nakamae