Recent Technical Trend and Future of Transmission Electron Microscopy (Atomic Resolution Imaging)
Recent Technical Trend and Future of Transmission Electron Microscopy (Atomic Resolution Imaging)
复制标题
透射电子显微镜（原子分辨率成像）的最新技术趋势和未来
DOI：
10.2320/materia.56.254
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Y. Ikuhara
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Y. Ikuhara
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影响因子：
2.2
作者：
H. Sawada;T. Sannomiya;F. Hosokawa;T. Nakamichi;T. Kaneyama;T. Tomita;Y. Kondo;T. Tanaka;Y. O
通讯作者：
H. Sawada;T. Sannomiya;F. Hosokawa;T. Nakamichi;T. Kaneyama;T. Tomita;Y. Kondo;T. Tanaka;Y. O
影响因子：
41.2
作者：
Ishikawa, Ryo;Okunishi, Eiji;Abe, Eiji
通讯作者：
Abe, Eiji
影响因子：
4
作者：
Findlay, S. D.;Shibata, N.;Ikuhara, Y.
通讯作者：
Ikuhara, Y.
DOI：
10.1093/jmicro/dfp030
发表时间：
2009-12-01
期刊：
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY
影响因子：
--
作者：
Sawada, Hidetaka;Tanishiro, Yasumasa;Takayanagi, Kunio
通讯作者：
Takayanagi, Kunio