Phase Transmission Electron Microscopy with Averration Correction Based on Active Defocus Modulation
Phase Transmission Electron Microscopy with Averration Correction Based on Active Defocus Modulation
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基于主动散焦调制的平均校正相位透射电子显微镜
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发表时间:
2005
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
Y.Takai et al.
中科院分区:
文献类型:
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作者:
M.Nakano;et al.;Y.Takai et al.
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DOI:
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发表时间:
1997
期刊:
影响因子:
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作者:
A. Kirkland;W. O. Saxton;G. Chand
通讯作者:
G. Chand
影响因子:
3.1
作者:
K. Nishikata;Y. Kimura;Y. Takai;R. Shimizu;T. Ikuta;S. Fujimoto;H. Yumen;Y. Hashimoto
通讯作者:
Y. Hashimoto
影响因子:
2.2
作者:
T. Ando;Y. Taniguchi;Y. Takai;Y. Kimura;R. Shimizu;T. Ikuta
通讯作者:
T. Ikuta
DOI:
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发表时间:
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期刊:
影响因子:
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作者:
通讯作者:
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DOI:
10.1093/oxfordjournals.jmicro.a023760
发表时间:
1999
期刊:
Journal of Electron Microscopy
影响因子:
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作者:
Y. Takai;Y. Kimura;T. Ikuta;R. Shimizu;Yuji Sato;S. Isakozawa;M. Ichihashi
通讯作者:
M. Ichihashi