Ultrafast Electron Microscopy using a MeV-energy Femtosecond-pulse Electron Beam
Ultrafast Electron Microscopy using a MeV-energy Femtosecond-pulse Electron Beam
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使用 MeV 能量飞秒脉冲电子束的超快电子显微镜
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Jinfeng Yang
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Jinfeng Yang;Yoichi Yoshida;Katsumi Tnimura;Jinfeng Yang
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影响因子：
27.1
作者：
Shiloh, Roy;Schönenberger, Norbert;Adiv, Yuval;Ruimy, Ron;Karnieli, Aviv;Hughes, Tyler;Joel England, R.;Leedle, Kenneth James;Black, Dylan S.;Zhao, Zhexin
通讯作者：
Zhao, Zhexin
影响因子：
3.3
作者：
Park, Sang Tae;Lin, Milo M.;Zewail, Ahmed H.
通讯作者：
Zewail, Ahmed H.
影响因子：
56.9
作者：
Ryabov, A.;Baum, P.
通讯作者：
Baum, P.
DOI：
10.1088/0022-3735/9/6/011
发表时间：
1976-01-01
期刊：
JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS
影响因子：
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作者：
OLDFIELD, LC
通讯作者：
OLDFIELD, LC
使用相对论能量飞秒电子束的超快电子显微镜
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
R. Asakawa;J. Yang;J. Yang
通讯作者：
J. Yang