Direct measurement o SET pulse width in 0.2-μm SOI logic cells irradiated by heavy ions
Direct measurement o SET pulse width in 0.2-μm SOI logic cells irradiated by heavy ions
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直接测量重离子辐照的 0.2μm SOI 逻辑单元中的 SET 脉冲宽度
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yoshimitsu Yanagawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yoshimitsu Yanagawa;et. al.;Yoshimitsu Yanagawa
影响因子：
1.8
作者：
Baze, MP;Buchner, SP
通讯作者：
Buchner, SP