Characterization of Organic Nano-Transistors Using a Conductive AFM Probe
Characterization of Organic Nano-Transistors Using a Conductive AFM Probe
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使用导电 AFM 探针表征有机纳米晶体管
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Nakamura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
岡ノ谷一夫;M.Nakamura
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Si(001)-(2 × 1)-H 上 CuPc 晶体分子排列的扫描探针显微镜研究
影响因子：
1.9
作者：
M. Nakamura;H. Tokumoto
通讯作者：
H. Tokumoto
Si(001)-(2 × 1)-H 上铜酞菁的分子排列：高分辨率摩擦力显微镜和分子力学研究
影响因子：
1.9
作者：
M. Nakamura;H. Tokumoto
通讯作者：
H. Tokumoto
基材对 CuPc 纳米晶面内导电的影响
DOI：
10.1557/proc-738-g8.11
发表时间：
2002
期刊：
MRS Proceedings
影响因子：
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作者：
M. Nakamura;Masatoshi Watanabe;T. Maruyama;M. Iizuka;K. Kudo
通讯作者：
K. Kudo
氢封端 Si(111) 上铜酞菁的分子排列：表面粗糙度的影响
DOI：
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发表时间：
1996
期刊：
影响因子：
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作者：
M. Nakamura;Y. Morita;Y. Mori;A. Ishitani;H. Tokumoto
通讯作者：
H. Tokumoto
利用邻位 Si(001)-(2×1)-H 控制酞菁分子柱的面内取向
影响因子：
3.2
作者：
M. Nakamura;T. Matsunobe;H. Tokumoto
通讯作者：
H. Tokumoto