Sample-length Dependence of Critical Current of Slightly and Significantly Bent-damaged Bi2223 Superconducting Composite Tape
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轻微和严重弯曲损伤的 Bi2223 超导复合带临界电流与样本长度的关系
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
他2名
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Ochiai;M. Fujimoto;H. Okuda;他2名
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Bi2223/Ag超导带在弯曲和拉伸应力下的损伤演化及其对临界电流的影响
DOI：
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发表时间：
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期刊：
Journal of Nuclear Materials 329-333
影响因子：
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作者：
S.Ochiai;H.Okuda;M.Hojo;M.Tanaka 他5名
通讯作者：
M.Tanaka 他5名
BSCCO 带在张力下的临界电流响应
影响因子：
2.1
作者：
W. Blumenthal;R. A. Moore;J. Coulter;J. Bingert;K. V. Salazar
通讯作者：
K. V. Salazar
影响因子：
3.6
作者：
M. Hojo;M. Nakamura;T. Matsuoka;Mototsugu Tanaka;Shojiro Ochiai;M. Sugano;K. Osamura
通讯作者：
M. Hojo;M. Nakamura;T. Matsuoka;Mototsugu Tanaka;Shojiro Ochiai;M. Sugano;K. Osamura
银套超导带中 Bi(Pb)SrCaCuO 和 YBaCuO 的强度和临界电流密度
影响因子：
2.1
作者：
Shojiro Ochiai;K. Hayashi;K. Osamura
通讯作者：
K. Osamura
影响因子：
3.6
作者：
Shojiro Ochiai;T. Ishida;D. Doko;K. Morishita;H. Okuda;S. Oh;D. Ha;M. Hojo;M. Tanaka;M. Sugano;K. Osamura
通讯作者：
Shojiro Ochiai;T. Ishida;D. Doko;K. Morishita;H. Okuda;S. Oh;D. Ha;M. Hojo;M. Tanaka;M. Sugano;K. Osamura