Multisensor-Messsystem zur Messung von Mikro- und Nanotopographien

Multisensor-Messsystem zur Messung von Mikro- und Nanotopographien
复制标题

用于测量微米和纳米形貌的多传感器测量系统

DOI:
10.1515/teme-2017-0031
复制
发表时间:
2017
期刊:
tm - Technisches Messen
影响因子:
--
通讯作者:
P. Lehmann
P. Lehmann
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
S. Hagemeier;P. Lehmann

文献摘要

参考文献

相似文献

DOI: --
发表时间: 2012
期刊: Applied Optics
影响因子: 1.9
作者:
Weichang Xie;P. Lehmann;J. Niehues
通讯作者: J. Niehues
DOI: 10.1515/teme-2014-0402
发表时间: 2014
期刊: tm - Technisches Messen
影响因子: --
作者:
A. Keck;M. Böhm;Karl Lukas Knierim;O. Sawodny;Marc Gronle;W. Lyda;W. Osten
通讯作者: W. Osten
使用具有机械路径长度调制的光纤耦合共路径干涉仪测量距离变化
DOI: 10.1088/0957-0233/24/6/065202
发表时间: 2013
影响因子: 2.4
作者:
M. Schulz;P. Lehmann
通讯作者: P. Lehmann
用于微米和纳米计量的高分辨率光纤耦合干涉点传感器
DOI: 10.1515/teme-2015-0006
发表时间: 2014
期刊: tm - Technisches Messen
影响因子: --
作者:
M. Schake;M. Schulz;P. Lehmann
通讯作者: P. Lehmann
3D 干涉和共焦显微镜中边缘和陡坡的影响
DOI: 10.1117/12.2228307
发表时间: 2016
期刊:
影响因子: --
作者:
W. Xie;S. Hagemeier;C. Woidt;H. Hillmer;P. Lehmann
通讯作者: P. Lehmann