Electron ptychographic microscopy for three-dimensional imaging.
Electron ptychographic microscopy for three-dimensional imaging.
复制标题
用于三维成像的电子叠层照相显微镜
DOI：
10.1038/s41467-017-00150-1
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发表时间：
2017-07-31
影响因子：
16.6
通讯作者：
Kirkland AI
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Gao S;Wang P;Zhang F;Martinez GT;Nellist PD;Pan X;Kirkland AI
了解材料在纳米尺度上的三维结构信息对于理解复杂材料的性质是必不可少的。电子断层摄影术使用倾斜的一系列二维图像检索三维结构信息。在这篇文章中，我们报告了一种电子层析与反多层析方法的替代组合。我们展示了纳米结构材料的深度切片，横向分辨率为0.34 nm，相应的深度分辨率约为24-30 nm。这种三维成像方法在从无机纳米结构到生物大分子的一系列物体的三维结构确定方面具有潜在的应用。
Knowing the three-dimensional structural information of materials at the nanometer scale is essential to understanding complex material properties. Electron tomography retrieves three-dimensional structural information using a tilt series of two-dimensional images. In this paper, we report an alternative combination of electron ptychography with the inverse multislice method. We demonstrate depth sectioning of a nanostructured material into slices with 0.34 nm lateral resolution and with a corresponding depth resolution of about 24–30 nm. This three-dimensional imaging method has potential applications for the three-dimensional structure determination of a range of objects, ranging from inorganic nanostructures to biological macromolecules.
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影响因子：
16.6
作者：
Li, Y.;Zakharov, D.;Zhao, S.;Tappero, R.;Jung, U.;Elsen, A.;Baumann, Ph.;Nuzzo, R. G.;Stach, E. A.;Frenkel, A. I.
通讯作者：
Frenkel, A. I.
DOI：
10.1107/s0567739469001045
发表时间：
1969-01-01
期刊：
ACTA CRYSTALLOGRAPHICA SECTION A-CRYSTAL PHYSICS DIFFRACTION THEORETICAL AND GENERAL CRYSTALLOGRAPHY
影响因子：
--
作者：
HOPPE, W
通讯作者：
HOPPE, W
DOI：
10.1364/josaa.28.000604
发表时间：
2011-04-01
影响因子：
1.9
作者：
Maiden, Andrew M.;Humphry, Martin J.;Rodenburg, John M.
通讯作者：
Rodenburg, John M.
DOI：
10.1364/josaa.29.001606
发表时间：
2012-08-01
影响因子：
1.9
作者：
Maiden, A. M.;Humphry, M. J.;Rodenburg, J. M.
通讯作者：
Rodenburg, J. M.
影响因子：
2.2
作者：
Bunk, Oliver;Dierolf, Martin;Pfeiffer, Franz
通讯作者：
Pfeiffer, Franz