Enhanced Circuit Security Through Hidden State Transitions
Enhanced Circuit Security Through Hidden State Transitions
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通过隐藏状态转换增强电路安全性
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Savidis, Ioannis
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Juretus, Kyle;Savidis, Ioannis
用于智能卡中攻击模拟的高级故障注入
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
Asian Test Symposium
影响因子：
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作者：
K. Rothbart;U. Neffe;C. Steger;R. Weiss;E. Rieger;Andreas Mühlberger
通讯作者：
Andreas Mühlberger
DOI：
10.1145/2459976.2459985
发表时间：
2013
期刊：
2010 23rd International Conference on VLSI Design
影响因子：
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作者：
Avinash R. Desai;M. Hsiao;Chao Wang;L. Nazhandali;Simin Hall
通讯作者：
Simin Hall