Composition depth profiling of polystyrene/poly(vinyl ethyl ether) blend thin films by angle resolved XPS
Composition depth profiling of polystyrene/poly(vinyl ethyl ether) blend thin films by angle resolved XPS
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通过角度解析 XPS 对聚苯乙烯/聚（乙烯基乙基醚）共混薄膜进行成分深度分析
DOI：
10.1016/j.elspec.2009.02.017
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发表时间：
2009
影响因子：
1.9
通讯作者：
Beamson G
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Beamson G
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作者：
G. Beamson
通讯作者：
G. Beamson