Groove-shape-induced bandwidth expansion of spoof surface plasmon polaritons on planar corrugated Goubau line in millimeter-wave range
Groove-shape-induced bandwidth expansion of spoof surface plasmon polaritons on planar corrugated Goubau line in millimeter-wave range
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毫米波范围内平面波纹 Goubau 线上的槽形诱导的欺骗表面等离子体激元的带宽扩展
DOI：
10.1016/j.optcom.2016.06.038
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发表时间：
2016-12
影响因子：
2.4
通讯作者：
Zhu, YiMing
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Guo, XuGuang;Zhang, Chen;Yang, Rui;Zhu, YiMing
表面等离子体激元（SPP）在毫米波范围内不自然存在，但可以通过等离子体超材料来辅助，通常是涂覆在可弯曲的电介质膜上的周期性波纹Goubau线（PCGL）。与传统矩形槽PCGL相比，为了实现欺骗SPP（SSPP）的宽带传输，提出了三角形和梯形两种不同槽形的单边PCGL。仿真和实验结果表明，在相同的实际深度和转换效率下，梯形和三角形槽的PCGL比传统矩形槽的PCGL的通带得到了扩展。研究了三种SSPP的色散关系和等效电路模型，解释了沟槽形状引起的带宽扩展效应。带宽扩展效应为控制SSPP的通带开辟了另一条途径。
Surface plasmon polaritons (SPPs) do not exist naturally in millimeter-wave range, but can be assisted by plasmonic meta-materials, generally periodic corrugated Goubau lines (PCGLs) coated on ultrathin flexible dielectric films. Compared to traditional PCGLs with rectangular groove, we present two single-edge PCGLs with different corrugation groove shapes of triangle and trapezoid to realize more broadband transmission of spoof SPPs (SSPPs). Both the simulated and experimental results show that the pass-band of SSPPs is expanded for the PCGLs with trapezoidal and triangular grooves in the same actual depth and conversion efficiency, compared to the case of traditional rectangular grooves. The dispersion relation and the equivalent circuit model of the three SSPPs are investigated to explain the groove-shape-induced bandwidth expansion effect. The bandwidth expansion effect opens up another path to control the pass-band of SSPPs.
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影响因子：
3.8
作者：
M. Abolbashari;A. S. Gerges;A. Davies;F. Farahi
通讯作者：
M. Abolbashari;A. S. Gerges;A. Davies;F. Farahi
影响因子：
3.2
作者：
Jing Zhang;L. Cai;Wenli Bai;Yun Xu;Guofeng Song
通讯作者：
Jing Zhang;L. Cai;Wenli Bai;Yun Xu;Guofeng Song
影响因子：
56.9
作者：
Hibbins, AP;Evans, BR;Sambles, JR
通讯作者：
Sambles, JR
影响因子：
3.6
作者：
Lin Chen;C. Gao;Jiaming Xu;Xiaofei Zang;B. Cai;Yiming Zhu
通讯作者：
Lin Chen;C. Gao;Jiaming Xu;Xiaofei Zang;B. Cai;Yiming Zhu
DOI：
10.1109/5.333744
发表时间：
1994-11
期刊：
Proc. IEEE
影响因子：
--
作者：
D. Blumenthal;P. Prucnal;J. Sauer
通讯作者：
D. Blumenthal;P. Prucnal;J. Sauer