Holographic scrubbing technique for a programmable gate array
Holographic scrubbing technique for a programmable gate array
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可编程门阵列的全息擦洗技术
DOI：
10.1109/ahs.2015.7231161
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
T. Fujimori
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
M. Watanabe;T. Fujimori
近年来，在嵌入式系统中广泛使用的现场可编程门阵列（FPGA）也被期待用于太空环境、核电站等高辐射环境。目前可用的抗辐射FPGA可以支持擦洗技术，但这种技术带来的困难是，辐射耐受性不足以用于高辐射环境。因此，本文提出了一种可编程门阵列的全息擦洗技术。清洗周期可以小于10 ns，因此可编程门阵列的鲁棒性可以大大提高。本文介绍了理论分析结果和演示的高速擦洗上的光学可重构门阵列。
Recently, field programmable gate arrays (FPGAs), which have become widely used for embedded systems, have also become anticipated for use in high-radiation environments such as space environments and nuclear power plants. Currently available radiation-hardened FPGAs can support scrubbing techniques, but such techniques entail the difficulty that radiation tolerance is insufficient for high-radiation environments. This paper therefore presents a holographic scrubbing technique for a programmable gate array. The scrubbing period can be less than 10 ns, so the robust ability of programmable gate arrays can be increased drastically. This paper presents theoretical analysis results and a demonstration of high-speed scrubbing on an optically reconfigurable gate array.
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通讯作者：
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