Townsend's Secondary Ionization Coefficient of Mgo Film in Ar and Electron Reflection at the Surface
Townsend's Secondary Ionization Coefficient of Mgo Film in Ar and Electron Reflection at the Surface
复制标题
氧化镁薄膜在氩气中的汤森二次电离系数和表面电子反射
DOI:
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发表时间:
2007
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
H.Itoh
中科院分区:
文献类型:
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作者:
S.Suzuki;H.Itoh
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DOI:
10.1541/ieejfms.123.118
发表时间:
2003
期刊:
The transactions of the Institute of Electrical Engineers of Japan.A
影响因子:
--
作者:
Susumu Suzuki;H. Itoh
通讯作者:
H. Itoh
DOI:
10.1088/0022-3727/25/11/002
发表时间:
1992
期刊:
Journal of Physics D
影响因子:
--
作者:
Susumu Suzuki;H. Itoh;N. Ikuta;H. Sekizawa
通讯作者:
H. Sekizawa
影响因子:
6.4
作者:
Sir J. J. Thomson;G. P. Thomson
通讯作者:
G. P. Thomson
影响因子:
1.5
作者:
Susumu Suzuki;H. Itoh
通讯作者:
H. Itoh