High-throughput Characterization of Conductivity by the Low-temperature Scanning Microwave Microscope

High-throughput Characterization of Conductivity by the Low-temperature Scanning Microwave Microscope
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利用低温扫描微波显微镜对电导率进行高通量表征

DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
Applied Surface Science 252
影响因子：
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通讯作者：
T.Hasegawa
T.Hasegawa
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
S.Okazaki;N.Okazak1;X.-R.Zhao;H.Sugaya;S.Yaginuma;R.Takahashi;M.Murakami;Y.Mastumoto T.Chikyow;H.Koinuma;T.Hasegawa

文献摘要

参考文献

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DOI： 10.1143/jjap.36.3152
发表时间： 1997
期刊： Japanese Journal of Applied Physics
影响因子： 1.5
作者：
Yasuo Cho;Shigeyuki Atsumi;K. Nakamura
通讯作者： K. Nakamura