Yield, variability, reliability, and stability of two-dimensional materials based solid-state electronic devices.
Yield, variability, reliability, and stability of two-dimensional materials based solid-state electronic devices.
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基于二维材料的固态电子设备的产量，可变性，可靠性和稳定性。
DOI：
10.1038/s41467-020-19053-9
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发表时间：
2020-11-10
影响因子：
16.6
通讯作者：
Li LJ
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Lanza M;Smets Q;Huyghebaert C;Li LJ
基于2D材料的电子器件和电路的统计分析的重要性有时被忽视。在这里，作者讨论了这些设备最紧迫的集成问题，并强调了产量，可变性，可靠性和稳定性基准的需要，并概述了可行的策略，导致研究论文，是有用的行业。
The importance of statistical analyses on 2D materials-based electronic devices and circuits is sometimes overlooked. Here the authors discuss the most pressing integration issues for such devices and emphasize the need for yield, variability, reliability, and stability benchmarking, and outline viable strategies resulting in research papers that are useful for the industry.
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