Analysis of Vth variability in NbOx-based threshold switches

Analysis of Vth variability in NbOx-based threshold switches
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基于 NbOx 的阈值开关的 Vth 变异性分析

DOI：
10.1109/nvmts.2016.7781515
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发表时间：
2016
期刊：
2016 16th Non-Volatile Memory Technology Symposium (NVMTS)
影响因子：
--
通讯作者：
R. Tetzlaff
R. Tetzlaff
中科院分区：
--
文献类型：
--
作者：
S. Slesazeck;M. Herzig;T. Mikolajick;A. Ascoli;M. Weiher;R. Tetzlaff

文献摘要

参考文献

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发表时间： 2015
期刊： Semiconductor Science and Technology
影响因子： 1.9
作者：
H. Wylezich;E. Reinhardt;S. Slesazeck;T. Mikolajick
通讯作者： T. Mikolajick