Debugging hardware designs using dynamic dependency graphs
Debugging hardware designs using dynamic dependency graphs
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使用动态依赖图调试硬件设计
DOI:
10.1016/j.micpro.2016.10.004
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发表时间:
2016
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
Goerschwin Fey
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Jan Malburg;Alexander Finder;Goerschwin Fey
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DOI:
10.1007/978-3-540-70545-1_3
发表时间:
2008
期刊:
2007 IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop
影响因子:
--
作者:
H. Foster
通讯作者:
H. Foster
DOI:
--
发表时间:
2012
期刊:
IEEE European Test Symposium
影响因子:
--
作者:
Urmas Repinski;Hanno Hantson;M. Jenihhin;J. Raik;R. Ubar;G. D. Guglielmo;G. Pravadelli;F. Fummi
通讯作者:
F. Fummi
DOI:
--
发表时间:
2012
期刊:
International Workshop on Microprocessor Test and Verification
影响因子:
--
作者:
A. Tsepurov;Valentin Tihhomirov;M. Jenihhin;J. Raik;Gunter Bartsch;Jorge Hernán Meza Escobar;Heinz
通讯作者:
Heinz
影响因子:
0.5
作者:
KOREL, B;LASKI, J
通讯作者:
LASKI, J
DOI:
10.1109/tcad.2007.907257
发表时间:
2007
期刊:
2007 Asia and South Pacific Design Automation Conference
影响因子:
--
作者:
Kai;I. Markov;V. Bertacco
通讯作者:
V. Bertacco