X-ray reflectivity from curved liquid interfaces.
X-ray reflectivity from curved liquid interfaces.
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弯曲液体界面的 X 射线反射率
DOI：
10.1107/s1600577517018057
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发表时间：
2018
影响因子：
2.5
通讯作者：
O.M. Magnussen
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
S. Festersen;S.B. Hrkac;C.T. KoopsB. Runge;T. Dane;B.M. Murphy;O.M. Magnussen
目前，由于缺乏专用的液体表面衍射仪，在自由电子激光器等现代光源下对液-气和液-液界面结构的X射线反射率研究受到阻碍。它示出，这个障碍可以克服由另一种实验方法，使用的自然曲率的液滴的入射角的变化。示出了两种操作模式：（i）通过纳米束的连续反射率测量和（ii）通过微米束的大范围反射率曲线的并行采集。这两种方法的可行性证明了汞/蒸汽，水/蒸汽和汞/0.1 M氟化钠界面的研究。 所获得的反射率曲线与通过常规技术获得的数据相匹配，在微束模式下高达5αc，在纳米束模式下高达35αc，允许观察Hg分层峰。
X-ray reflectivity studies of the structure of liquid–vapour and liquid–liquid interfaces at modern sources, such as free-electron lasers, are currently impeded by the lack of dedicated liquid surface diffractometers. It is shown that this obstacle can be overcome by an alternative experimental approach that uses the natural curvature of a liquid drop for variation of the angle of incidence. Two modes of operation are shown: (i) sequential reflectivity measurements by a nanometre beam and (ii) parallel acquisition of large ranges of a reflectivity curve by micrometre beams. The feasibility of the two methods is demonstrated by studies of the Hg/vapour, H2O/vapour and Hg/0.1 M NaF interface. The obtained reflectivity curves match the data obtained by conventional techniques up to 5αc in micro-beam mode and up to 35αc in nano-beam mode, allowing observation of the Hg layering peak.
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