Lateral resolution improvement of laser-scanning imaging for nano defects detection

Lateral resolution improvement of laser-scanning imaging for nano defects detection
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用于纳米缺陷检测的激光扫描成像的横向分辨率提高

DOI:
10.1515/aot-2014-0030
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发表时间:
2014
影响因子:
1.8
通讯作者:
Kiyoshi Takamasu
Kiyoshi Takamasu
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
Hiroki Yokozeki;Ryota Kudo;Satoru Takahashi;Kiyoshi Takamasu

文献摘要

参考文献

被引文献

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DOI: 10.11203/jar.19.177
发表时间: 2004-09
期刊: --
影响因子: --
作者:
裕幸 飯田;菊男 竹田;武利 藤本
通讯作者: 裕幸 飯田;菊男 竹田;武利 藤本