High-Resolution Diffraction Microscopy Using the Plane-Wave Field of a Nearly Diffraction-Limited Focusing X ray
High-Resolution Diffraction Microscopy Using the Plane-Wave Field of a Nearly Diffraction-Limited Focusing X ray
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使用近衍射极限聚焦 X 射线的平面波场的高分辨率衍射显微镜
DOI:
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发表时间:
2009
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
K.Yamauchi
中科院分区:
文献类型:
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作者:
Y.Takahashi;Y.Nishino;R.Tsutsumi;H.Kubo;H.Furukawa;H.Mimura;S.Matsuyama;N.Zettsu;E.Matsubara;T.Ishikawa;K.Yamauchi
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影响因子:
3.7
作者:
Yukio Takahashi;Hideto Kubo;H. Furukawa;K. Yamauchi;E. Matsubara;T. Ishikawa;Y. Nishino
通讯作者:
Yukio Takahashi;Hideto Kubo;H. Furukawa;K. Yamauchi;E. Matsubara;T. Ishikawa;Y. Nishino
影响因子:
1.6
作者:
Mimura, Hidekazu;Morita, Shinya;Yamauchi, Kazuto
通讯作者:
Yamauchi, Kazuto
影响因子:
3.7
作者:
Marchesini, S;He, H;Spence, JCH
通讯作者:
Spence, JCH
DOI:
--
发表时间:
2007
期刊:
Applied Physics Letters 90
影响因子:
--
作者:
Y. Takahashi;Y. Nishino;T. Ishikawa;E. Matsubara
通讯作者:
E. Matsubara
影响因子:
8.6
作者:
A. Scherz;D. Zhu;R. Rick;W. Schlotter;S. Roy;J. Lüning;J. Stöhr
通讯作者:
J. Stöhr