Oh-chip di/dt Detector Circuit
Oh-chip di/dt Detector Circuit
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Oh-chip di/dt 检测电路
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kunihiro Asada
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Toru Nakura;Makoto Ikeda;Kunihiro Asada
通过电子束探测测量 VLSI 电源电流
影响因子：
5.4
作者：
K. Jenkins;R. Franch
通讯作者：
R. Franch
用于电源线的片上 di/dt 检测器电路
DOI：
10.1109/icmts.2004.1309294
发表时间：
2004
期刊：
Proceedings of the 2004 International Conference on Microelectronic Test Structures (IEEE Cat. No.04CH37516)
影响因子：
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作者：
T. Nakura;M. Ikeda;K. Asada
通讯作者：
K. Asada