Scanning Seebeck tunneling microscopy
Scanning Seebeck tunneling microscopy
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扫描塞贝克隧道显微镜
DOI：
10.1088/1361-6463/aacfab
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
S. Krause
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
C. Friesen;H. Osterhage;J. Friedlein;A. Schlenhoff;R. Wiesendanger;S. Krause
在扫描隧道显微镜装置上对金属-真空-金属结中的隧道塞贝克效应进行了实验研究。用激光器选择性加热尖端会在隧道结处产生明确的温差。尖端和样品之间的热电压测量与原子尺度的横向分辨率和相关的结的能带结构，所揭示的本地隧道光谱。在补偿条件下的隧道电流整流实验允许直接测量塞贝克系数，而不需要尖端加热，从而实现原子尺度上的塞贝克映射。
The tunneling Seebeck effect in a metal-vacuum-metal junction is studied experimentally in a scanning tunneling microscopy setup. Selective heating of the tip with a laser generates a well-defined temperature difference at the tunnel junction. The thermovoltage between the tip and the sample is measured with atomic-scale lateral resolution and related to the band structure of the junction, as revealed by local tunneling spectroscopy. Tunnel current rectification experiments in compensated conditions allow for a direct measurement of the Seebeck coefficient without the need for tip heating, thereby realizing Seebeck mapping on the atomic scale.
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