WideScan: Exploiting Out-of-Band Distortion for Device Classification Using Deep Learning
WideScan: Exploiting Out-of-Band Distortion for Device Classification Using Deep Learning
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WideScan：利用深度学习的带外失真进行设备分类
DOI：
10.1109/globecom42002.2020.9348138
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Natarajan, Arun
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Elmaghbub, Abdurrahman;Hamdaoui, Bechir;Natarajan, Arun
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通讯作者：
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DOI：
10.2514/6.2008-5464
发表时间：
2008
期刊：
arXiv: Signal Processing
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--
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通讯作者：
N. Blachman